厦门百维乐科技有限公司

XIAMEN BEVELLE TECHNOLOGY CO., LTD

详细说明

荧光测厚仪

收藏
  • 产品展示
  • 产品说明


微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

百维乐科技

联系方式:刘先生  15985869962

邮箱地址:xmbaiweile@163.com

公司网址:www.xmbaiweile.com

公司地址:厦门市软件园三期诚毅北大街2号702之三

产品中心


扫一扫  浏览手机端

×
seo seo