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XIAMEN BEVELLE TECHNOLOGY CO., LTD

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热膨胀仪

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所有膨胀仪测量系统中的材料均处于稳定状态,但部分材料仍发生显著的尺寸变化。上述情况在相关方法涉及的加热或冷却温度范围较大时尤为明显,这些材料可能发生与样品等效的尺寸变化。为了确保精确度,良好的实验室测量需要使用与样品属性、形状及尺寸相似度较高的参考材料,基于每款温度程序执行仪器校准。然而,对于有助于曲线精确度校准的不同变量而言,其数量可能随时间产生显著的重复性误差,进而影响测量精确度。

DIL 832 采用 TA 仪器删除的 True DifferentialTM 设计,它是删除一款真正完全补偿测量系统尺寸变化的系统。该仪器支持使用光学编码器仅测量样品的实际变化情况。因此,线性热膨胀曲线不再取决于未知校准因子。此外,CTE 值的精确度和精密度同样大幅提升。被测材料不会对其产生影响。

基于卧式推杆设计,DIL 832 中的样品放置于样品夹持器的样品支架中。该支架设计独特,可删除/广泛程度减少摩擦。通过推杆自身施加的加载力确保其在进行热处理时与测量系统存在机械接触。

根据温度范围,测量系统和样品支架材料可选择熔融石英或氧化铝。DIL 832 使用真实分辨率高达 1 nm 的增量式光学编码器检测并测量尺寸变化。

卧式膨胀仪的关键特性是施加于样品的加载力,尤其是通常需要研发实验室进行测试的未知、难加工或快速收缩材料。正确的加载力取决于待测事件、该事件发生时的速率、时间以及实验温度范围。DIL 832 线性磁性电机确保在 5000μm 测量范围内实现精度极高、真正恒定不变的加载力,范围为 0.01 N 至 1 N。

膨胀仪类型

膨胀仪类型

样品尺寸长度/直径

0 至 25 mm/12 mm

样品支架材质:

熔融石英或, Al2O3

接触力:

0.01 – 1.0 N

长度变化范围:

5000 μm

分辨率 ∆L:

1 nm,   0.05°C

精确度 (α):

0.01 x 10-6 K-1


气体环境:

真空、惰性气体、空气

具备质量流量控制器及真空装置的气体装置(选配)

温度范围:

RT – 1100°C
RT – 1500°C
RT – 1700°C

加热速率

50°K/min

冷却速率

1100°C – RT: 短时间为 13 分钟
1500°C – RT: 不足一小时
1700°C – RT: 约一小时

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